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掃描電鏡服務|掃描電鏡的特點和基本原理
關鍵詞：掃描電鏡服務
掃描電鏡服務——掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀描摹調查手法，可直接使用樣品外表材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是，①有較高的放大倍數，2-20萬倍之間接連可調；②有很大的景深，視界大，成像富有立體感，可直接調查各種試樣高低不平外表的纖細結構；③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀設備，這樣能夠一起進行顯微組織描摹的調查和微區(qū)成分剖析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。
掃描電鏡服務——掃描電子顯微鏡具有由三極電子槍宣布的電子束經柵極靜電聚焦后成為直徑為50mm的電光源。在2-30KV的加速電壓下，通過2-3個電磁透鏡所組成的電子光學系統(tǒng)，電子束會聚成孔徑角較小，束斑為5-10 nm的電子束，并在試樣外表聚焦。 末級透鏡上邊裝有掃描線圈，在它的效果下，電子束在試樣外表掃描。高能電子束與樣品物質相互效果產生二次電子，背反射電子，X射線等信號。這些信號分別被不同的接納器接納，經放大后用來調制熒光屏的亮度。因為通過掃描線圈上的電流與顯像管相應偏轉線圈上的電流同步，因此，試樣外表恣意點發(fā)射的信號與顯像管熒光屏上相應的亮點一一對應。也就是說，電子束打到試樣上一點時，在熒光屏上就有一亮點與之對應，其亮度與激發(fā)后的電子能量成正比。
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