CMA報告、掃描電鏡服務(wù)、電鏡掃描服務(wù)、掃描電鏡服務(wù)費用

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      公司新增掃描電鏡，為社會各界提供掃描電鏡技術(shù)服務(wù)。具有CMA、CNAS資質(zhì)，可以出具CMA、CNAS報告。

       掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope ,SEM），它具有制樣簡單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點。近年來，掃描電鏡已廣泛地應(yīng)用在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、等學(xué)科的領(lǐng)域中。掃描電鏡的電子束不穿過樣品，僅在樣品表面掃描激發(fā)出二次電子。獲得圖像為立體形象，反映標本的表面結(jié)構(gòu)。因此掃描電鏡標本無需制成薄片。掃描電鏡最基本的功能是對各種固體樣品表面進行高分辨形貌觀察。大景深圖像是掃描電鏡觀察的特色，觀察可以是一個樣品的表面，也可以是一個切開的面，或是一個斷面。

       服務(wù)內(nèi)容

• 拋光、噴金、二次電子形貌相、背散射電子像（BSE）、EDS點測、EDS線掃、常規(guī)單一視場EDS面掃 
• 觀察生物試樣、進行動態(tài)觀察等。
• 材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體材料與器件。

      服務(wù)流程

1.  將需檢測樣本運輸?shù)轿夜净蛘哂晌覀児咎峁颖荆?/span>
2.  根據(jù)客戶要求對需檢測樣本進行掃描電子顯微鏡實驗，提供客戶影像圖片。

     樣品要求

（1）非磁選塊體樣品

        a）樣品待測試面及其背面應(yīng)該相互平行；

        b）樣品尺寸：直徑小于200mm，高度不超過80mm。可放置大件樣品。

（2）非磁性粉末樣品

         a）粉末需干燥無水分及揮發(fā)組分；

         b）樣品質(zhì)量建議不少于50mg。

（3）磁性樣品請先咨詢。

      建議測試內(nèi)容

      為客觀表征樣品的組織結(jié)構(gòu)及元素組成，SEM表征應(yīng)遵循如下標準：

（1）應(yīng)在不少于3個區(qū)域進行組織形貌觀察，放大倍數(shù)應(yīng)從低倍（例如：100×）逐級增大，每個區(qū)域拍攝3-4張形貌照片；

（2）能譜點測應(yīng)不少于3組數(shù)據(jù)，并同時記錄采集區(qū)域的形貌像；

（3）能譜線掃及面掃應(yīng)不少于2組數(shù)據(jù)，并同時記錄采集區(qū)域的形貌像。

        以上為樣品寄到實驗室，由我們進行測試的方式。強烈建議您提供相關(guān)的掃描電鏡照片做參考，確保目標參數(shù)和拍照效果。如果客戶有其他的特殊情形，比如由于客觀原因樣品尺寸無法滿足上述要求，或者實驗要求有個性化需求，請告訴我們，我們將為您制定個性化測試方案。

     以下標準本中心可以出具CMA、CNAS報告：

• 《GB/T 16594-2008  微米級長度的掃描電鏡測量方法通則》
• 《GB/T 20307-2006  納米級長度的掃描電鏡測量方法通則 》
• 《JY/T0584-2020  掃描電子顯微鏡分析方法通則》
• 《GB/T 17361-2013  沉積巖中自生粘土礦物鑒定掃描電子顯微鏡及能譜儀方法 》
• 《SY/T 5162-2014   巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法》
• 《 GB/T18295-2001  油氣儲層砂巖樣品掃描電子顯微鏡分析方法》
• 《GB/T 35099-2018 掃描電鏡-能譜法大氣細粒子單顆粒形貌與元素分析 》
• 《GB/T 35097-2018  掃描電鏡-能譜法環(huán)境空氣中石棉等無機纖維狀顆粒讀數(shù)濃度的測定》